用高频仪器测量低频信号的问题

最近做了个阻抗变换网络，很简单，就是电感电容电阻的组合，8.7KHZ8.9KHZ的，对输出阻抗有回损要求，比较重要的指标就是在挂一定负载条件下，回损的DB值变化范围不能超过0.2DB。
手里有个4395A可以当网络分析仪用，频率范围是10HZ500MHZ，有个S参数测试仪，范围是100KHZ500MHZ，有个双定向耦合器频率范围是1MHZ1GHZ，我用的是4395A和双定向耦合器，当然在使用之前是经过4395A校准的。当然，由于8KHZ比较低，我把IF BW设定为10HZ。
每天我都是开机半个小时以后开始测量，测量前都认真校准，但是每次测量开始和测量结束的结果都差的比较大（当然我用的是即时显示，没有用平均功能……）。比如我测量时，第一遍结果出来是3.8DB，然后不断测量，10分钟以后测量结果就变成了4DB……。我第一天晚上搞好了，第二天早上再来测结果又变……环境温度是没有变化的，由于功率小，器件温度也没什么变化，有空调
现在不明白定向耦合器测量低频信号合适吗？这个校准能否校过来？如果不合适的话原因是什么？
如果不是仪器的原因，那又有什么可能造成这个原因呢？事实上，我在测量高频率的信号，IF BW设定为30KHZ时，从来没有碰到过类似的问题……
请大大们指点！

 

难道没人碰到过这种问题吗……？

 

仪器使用前要预热半个小时多

 

1可能是定向耦合器的问题,因其从1M开始,不适合你的频段,所以你每次测量一下定向耦合器的插损驻波有没有变化;每次结果不一样时,你都测一下耦合器的变化.
2要测那么准,可能不容易,一般校准件的精度好像也有0.2dB了,你怎么能测那么准呢?
3 顺便提醒一下,低频信号一般不太稳定,因其是从10M晶振分频得到的,其频率/功率的稳定性你可以用计数器检测一下,看准不准

 

每次使用前我都预热一个小时……
我昨天用10HZ的IF BW连续测量了一个上午，发现结果始终在变，只是变化的较慢，而且越到后面幅度越小
于是，我用1KHZ的IF BW，测量结果上出现了挺多的尖刺，我只好设计时让这些尖刺也符合要求……这样总该可以吧……
我测量了那个定向耦合器，感觉没什么变化啊，是不是这样就可以用于低频器件的测试了?

 

汗……还有人吗？

 

一、很多公司都有有关测量不确定性的计算,比较典型的是Agilent的,但是我手边有个Mini-Circuits的,是有关不匹配对插入损耗增益产生的不确定性的影响:
http://www.mini-circuits.com/pages/mcl_il_passive_calc.html
http://www.mini-circuits.com/pages/mcl_gain_active_calc.html
通过这些例子,说明你测试链上的所有仪器设备部件的回损都会影响到测试结果
二、其实，用微办可以仿真出来的，比较不同情况下的回损变化，有理论分析最好；测量未必能测出来；仿真也可以做Yield，和实际更接近。

 

扫频源的谐杂波对驻波测量影响很大: 附图摘自<实用射频技术>一书,P139

 

<实用射频技术>一书(胡树豪)有很多测试回损的方法和体会，相信能解决你的问题

 

谢谢大大们的指导！现在才知道原来频率源的高次的谐波如果不好的话也会对测试有影响呵呵。
我觉得现在的问题是在于，使用S参数测试仪里的定向耦合器测量低频信号时会不会对测试结果有影响。
我使用了几种不同的，固定阻抗值的东西在这个低频下测量，发现测试结果还行，不知道这样可以不可以。

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习本站推出的微波射频专业培训课程。