如何正确选择射频电缆组件，仅仅只考虑指标和性能？

而当需要在更高的频率下使用时，则需要采用微波测试电缆组件，这也就意味着用户要花费更高的成本。这是因为微波电缆的设计和制造理念与常规电缆的不同所致，如微波电缆通常采用多层的屏蔽和低密度的聚四氟乙烯材料（LD-PTFE），这种介质的介电常数要比普通的实心聚乙烯（PE）和聚四氟乙烯（PTFE）更低，大约在1.38~1.73之间，其相速度（电磁波在电缆中的相对于空气的传播速度）达到83%，也就是说更加接近于空气的介质特性。

在BXT，18GHz以上的微波测试电缆被命名为TC系列。图7是典型的TC18系列电缆的VSWR，在18GHz全频段，其VSWR均小于1.2，TC18系列可扩展应用到20GHz，其VSWR小于1.25。


四、衰减（插入损耗）

电缆的衰减是表示电缆有效的传送射频信号的能力，它由介质损耗、导体（铜）损耗和辐射损耗三部分组成。大部分的损耗转换为热能。导体的尺寸越大，损耗越小；而频率越高，则介质损耗越大。因为导体损耗随频率的增加呈平方根的关系，而介质损耗随频率的增加呈线性关系，所以在总损耗中，介质损耗的比例更大。另外，温度的增加会使导体电阻和介质功率因素的增加，因此也会导致损耗的增加。

电缆的损耗计算过程比较繁琐。首先要计算出导体的射频表明电阻，然后再计算单位物理长度的电阻值，最后再计算出单位长度的损耗值。在工程中，通常采用一种简化的经验算法：


其中k1为电阻损耗系数，k2为介质损耗系数，f为频率(MHz)。

几乎所有的电缆手册中都会给出不同频率下的损耗值，这为具体的选型和应用提供了极大的方便。
对于测试电缆组件，其总的插入损耗是接头损耗、电缆损耗和失配损耗的总和：

I.L(dB) = I.L cable + I.L connector + M.L

测试电缆组件的总体表现是频率越高，损耗越大。下图表示了一条典型的测试电缆组件的插入损耗与频率的关系。

在大功率发射系统中，则要求天馈系统电缆的损耗尽可能低，因为相对于提高发射功率来说，降低系统的无源损耗无论如何都是更加经济的。
在测试电缆组件的使用中，不正确的操作也会产生额外的损耗。例如，对于编织电缆，弯曲也会增加其损耗，见图9。