PXI TAC 2010演绎五大趋势

PXI自动化测试五大趋势

测试工程师和管理人员最大的挑战是不断跟上目前最新的测试发展趋势。不断变化的新设计与制造技术已经令人畏惧，要再跟上测试技术的潮流往往更加艰难。

“即使是在最艰难的2009年，NI每年在研发上投入超过收入的16%，而且还会跟随不同技术的发展变化情况而不断平衡。”NI仪器与分布式控制研发副总裁Robert Canik在会上指出，“我们认为PXI自动化测试技术的发展将呈现五大趋势：

1、标准化架构；

2、多通道RF测试；

3、点对点高速传输与计算；

4、实时测试；

5、可重复配置的仪器。”

NI应用工程师徐征在接下来的演讲中进一步阐述了上述趋势：“标准化架构能够解决从子系统到系统设计中的重复测试验证的问题，能够解决从开发到量产过程中，在原型和生产现场使用统一测试系统的问题，同时，标准化架构将有利于在全球化开发环境下使用统一的测试系统，从而提高测试效率；多通道RF测试能够满足下一代无线通信系统测试要求从信号到软件都能实现严格的并行同步的要求；点到点计算基于分布式架构，可将多个仪器采集的数据直接流盘到系统中的FPGA进行实时处理，系统其他资源可对这些数据进行离线分析处理或更高级的运算，以满足不断增加的复杂测试需求；实时测试能帮助工程师在整个开发过程中实现嵌入式设计模型的重复利用；可重复配置基于FPGA技术，能够实现更高的性能和灵活性，特别适用于那些新的，还在发展中的应用。”

此外，朱君在新闻发布会后还在现场为记者介绍了部分产品，在此挑出来几类与大家分享：

●无所不能的图形化系统设计工具LabVIEW

这是一个能实现人机对战的下棋系统，利用LabVIEW和PXI数据采集与运动控制搭建而成。该系统采用了NI的PXI高精度数据采集卡和高性能运动控制卡，实现对不同数据传感器输出信号的数据采集，以及对电机的控制。

“其实该方案并不是一个非常实用的方案，我们主要是想展示如何结合LabVIEW实现了信号处理，对弈算法整合以及对机械执行机构的实时控制，为客户提供更多思路。”朱君表示。

●利用FPGA技术构建的自定义仪器系统

该方案包括NI FlexRIO FPGA模块以及NI FlexRIO适配器模块，它们为FPGA添加了前端I/O。它们共同构成一类可重新配置并受LabVIEW FPGA支持的测试仪器。

如同测试工程师致力于创新的斱法以减少测试时间和系统花费一样，可重配置仪器也将不断地探索更多主流应用。例如，利用内置有FPGA和模数转换器的数字化仪，工程师可以向FPGA部署各种功能，如滤波、峰值检测、快速傅里叶变换(FFTs)，或者是自定义触収。

●并行测试系统

利用NI模块化仪器和Teststand软件对4个UUT进行混合信号的系统测试。本演示主要以三种不同的模式(顺序、并行和自动协调)对4个UUT进行批量的测试，并比较不同模式之间的性能速度和设备利用率。

TestStand是实时的测试执行管理软件，用于组织、控制和执行自动化原型设计、验证或制造测试系统。利用TestStand强大的兼容性，用户可以方便的在一个系统中将传统和现代测试编程序环境结合起来。

●软件定义的射频测试

在无线通信测试领域，新标准、新技术不断涌现，为测试带来很多挑战。该系统采用LabVIEW和PXI模块化射频硬件，可以方便实现WLAN和WiMax的信号测量等。

此外，在参加此次论坛的合作厂商聚星仪器也展出了自己在NI平台上开发的软件定义无线电系统。