相控阵天线有源驻波的几点疑问

最近在设计和测试相控阵天线遇到驻波上的问题。用HFSS进行的仿真，我是对阵中所有单元同时激励，最终调整确定了天线单元的尺寸。仿真结果显示，激励阵中某一单元，其他单元接负载情形下的驻波和所有单元同时激励情形下同一单元的驻波，差别很大。测试时，根据仿真第一种情形，我测其中一个单元，其他单元接负载，驻波不好，不过和仿真第一种情形下结果一致。接着，考虑到仿真的第二种情形，我将一个功分器连接所有单元，测试功分器总口驻波，驻波挺好。
问题1：相控阵天线单元有源驻波具体指的是什么情形下的驻波，是对某一单元激励，其他单元接负载情形下该单元的驻波，还是对所有单元同时激励情形下某一单元的驻波？
问题2：对于相控阵天线设计，我上述哪一种测试方法是对的？对于第二种测试方法，相对于第一种测试方法，驻波变好，是因为与仿真设计情形一致，还是因为功分器损耗造成的？
本人还是倾向于第二种仿真和测试情形，还望各位高手帮我答疑解惑，谢谢，谢谢！

没太看明白，能画个草图说明一下吗。

问题1：有源驻波是指第二种，有源驻波是指要考虑阵列中其他单元对考查单元的的耦合影响，只有当其他单元激励时，实际的耦合才会出现；
问题2：和问题1同理，第二种测试方法是对的。

不好意思，可能不太方便画图，其实主要就是对于阵列中某一天线单元的驻波描述了两种情形，情形一：激励阵列中该单元，其他单元接负载；情形二：激励阵列中所有单元。想知道，那种情形才是相控阵天线的有源驻波，还有与上述两种情形我给出两种相应的测试方法，对于相控阵天线的测试，哪种测试方法才是正确的，第二种测试方法驻波变好会不会是由于功分器损耗造成的？

谢谢你啊，我也感觉应该取方法二，不过还有疑问，按照方法二，我是没法知道在天线单元同时工作状态下阵中某一单元的驻波的，只能测得功分器总口的驻波，而且这驻波应该还有功分器损耗带来的改善，它应该是优于阵列中各个天线单元端口处的驻波的，不知道我这么理解对不对？

功分器为什么只能测总口的驻波，

你若只接一个单元，不就可以测一个单元的驻波了吗？

因为我是要测试阵列中每一个天线单元都工作情形下天线的驻波，那么功分器各个分支端口就需要分别和每一个天线单元端口相连，如果只接一个单元，那么其他的单元只能接负载，这相当于第一种测试情形，而我期望的是第二种测试情形

哦，你的这个阵列是用于接收，

不是发射，对吧？我开始一直以为是发射。

那如果你知道每一个单元具体是怎么接负载和接功分器，

那么你就可以在模拟中研究这两者对波传播影响的区别了。

阵列既可发射也有接收，但是至于是发射还是接收，跟我遇到的问题没有联系吧，正常工作状态下，不论发射还是接收都是全阵面工作，不知道我理解的对不对

你弄清了这一点吗：每一个单元具体是怎么接负载和接功分器？

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