NI发布新型PXI RF矢量信号分析仪

2011年3月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）最近推出了全新3.6GHz RF矢量信号分析仪（VSA）NI PXIe-5665，该PXI产品性价比高，且RF性能为同类产品中最佳。这款全新矢量信号分析仪的相位噪声、平均噪声水平、幅值精度和动态范围等规格均为行业领先。此外，NI PXIe-5665矢量信号分析仪还具有的一些特点包括: 基于PXI Express总线可以方便地利用Peer-to-Peer数据流进行直接的点对点数据传输和协处理；具有灵活的多输入多输出（MIMO）架构，可用于相位相干测量；并且其测量速度要比传统机架式仪器快至少五倍——由于具有这些优点，该设备是要求严苛的自动化射频测试应用的理想之选。

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“NI PXIe-5665 矢量信号分析仪具有同类产品中最高的性能，而其价格相比传统机架式仪器具有明显优势。”NI研发部高级副总裁Phil Hester介绍说，“由于我们的全新射频分析仪将高端性能和模块化灵活性整合到了一个紧凑、高性价比的产品中，工程师可以从设计验证到制造测试使用同一个仪器。”

该矢量信号分析仪包含全新NI PXIe-5603下变频器和NI PXIe-5653本振合成器，以及150MS/s的NI PXIe-5622中频（IF）数字化仪。这种组合为20Hz到3.6GHz频率范围、50MHz以内分析带宽的频谱测量和宽带矢量信号测量提供了优秀的解决方案。该矢量信号分析仪在800MHz中心频率, 10kHz频偏处具有极低的-129 dBc/Hz相位噪声，同时具有+24 dBm的三阶截点，以及±0.10 dB的绝对幅值精度。这些参数使NI PXIe-5665成为同类产品中性能最高的仪器。

对于调制信号分析，该矢量信号分析仪的独特板载自动校准工具使其可以实现±0.15 dB中频幅值响应，而中频相位线性度可以达到±0.1度。这一精度使256-QAM信号的误差矢量幅度 (EVM) 可做到低于0.21%。该矢量信号分析仪灵活的模块化架构使其可以根据应用需求进行扩展，为MIMO测试提供相位相干采集，为高效的频谱监测提供 20GHz/s的扫描率，以及进行Peer-to-Peer高速数据传输。此外，工程师可以利用NI PXIe-5665的list mode功能，通过内部定时或外部触发来显著缩短测试时间，并能确定性地执行用户定义的RF配置扫描。

包括NI PXIe-5665在内的软件定义的PXI模块化仪器有1500多种。工程师可以结合NI PXIe-5665和各种模块，在NI LabVIEW图形化系统设计环境下设计实现整个自动化测试系统。通过这种方式，PXI系统非常适合用于许多自动化测试应用。工程师还可以结合该矢量信号分析仪的软件定义性能与LabVIEW的各种RF软件工具包（或使用 NI LabWindows™/CVI及.NET开发环境），测试最新RF和无线通信标准，包括GSM/EDGE、WCDMA、LTE、WLAN和WiMAX 等。

了解NI PXIe-5665矢量信号分析仪更多信息，请访问ni.com/rf/zhs。

关于NI

30多年来，美国国家仪器公司（NI）帮助测试、控制、设计领域的工程师与科学家解决了从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战。通过现成可用的软件，如LabVIEW, 以及高性价比的模块化硬件，NI帮助各领域的工程师不断创新，在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。如今，NI为遍布全球各地的30,000家不同的客户提供多种应用选择。NI总部设于美国德克萨斯州的奥斯汀市，在40个国家中设有分支机构，共拥有5,200多名员工。在过去连续12年里，《财富》杂志评选NI为全美最适合工作的100家公司之一。作为最大的海外分支机构之一，NI中国拥有完善的产品销售、技术支持、售后服务和强大的研发团队。