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Inner Loop power 校准不准确

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WCDMA 终测inner loop powerE Fail,不良率有10%左右.可是这样的板子只要拿回去重新cal一次再终测就都是Pass的。
1.代工厂流水线生产手机,很高端的手机噢,WCDMA:前面两套校准设备,后面三套终测设备,用的都是8960.现在就是后面终测有10%的重测率,耽误产能.产线领导有意见.但我真的很郁闷,找不到根本原因所在. 量产了2年的老机型了,之前都没遇到过这样的问题.(WCDMA calibration不准).做过追踪发现校准的两套设备都会cal出这样的不良(inner loop power).而且都是band 2 的channel 9800的E.
做过很多改善措施,问题依旧.
愿路过的各位工程师仁义出手相助,给点方向.感激不尽!

Fail的点在哪儿?
线损补偿不合适,或者治具接触不良等原因,导致整体功率偏移的话,可能会导致PA功率等级切换点附近的内环功控测试不过

测试一下仪器端口到治具的射频端口的带内平坦度。

这个跟板子的供电稳定性有关系么?

仪器我交叉更换过了.问题还是这样。

一般是PA增益等级切换点,可以调试好。

是否软件版本升级的原因啊。

更改下校准文件中的PA增益切换点,DAC的初始值试试。

我只需要recal就能pass.终测端的值也很好.而且cal不准的只是一部分噢。
RD给出的解释是NV没有正常写入板子,导致。我靠。不会跟pc有关吧.或者是USB?
赶紧去试试..

那可以看看校准工具的通信这块,关注下电平,看是否有脉冲或线的问题导致电平过低等

最近在搞MTK6577 BAND8 3085--3088信道fail其它均ok
发现EVM 随着信道的增加而加大 2937 约3 3012 约 7 3088约 10
不知道是否与 EVM 悲有关,而且从B段开始 ,B,C,E,F,均有fail 且fail的功率点不定,有时在小功率 -3,-10,4,6等处,有时在 15,20,22等处,很是头痛,期待资深工程师指点

我的問題得到了改善,問題出在NV補償值上面.被人更改過.改回后得到改善.但是還是有一部份這樣的情況.概率 馬虎能接收.
你也可以沖這點著手看看.我遇到的只有E,F會fail,功率點也是不定 隨機的.只是inner loop 都只是測中間信道啊.

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。

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