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W的射频测试问题
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小弟最近在测试一款W的手机，测试上行内环功率控制时，当Inner loop test segment 设置为E、F时，手机测试失败，请问此具体原因是什么？谢谢！
这么长时间了，有没有解决问题啊。我之前也遇到同样的问题，换个牌子的PA就解决。不知道你是不是这样。希望能够分享给大家。
首先确定你failed的功率点，是不是在不同功率mode切换点附近
然后按照下面的思路分析，应该能找到问题：
1. 功率校准是不是准确？
2. 如果耦合器集成在PA上，查下PA在不同增益mode下得耦合系数是不是差别很大？
3. PA或者耦合器输出匹配的问题？还是看耦合系数对于不同输出负载的敏感程度。
4. 检查是不是有干扰、噪声影响detector工作，比如harmonic等。
当然楼上说的换PA，对第2,3,4点都会有影响。
skyworks的PA
不同位置fail原因都不同，你说个位置或者发个截图大家才能帮你定位啊。
内环问题校准的原因居多吧
我们也用Skyworks的PA，SKY77701，也出现一样问题，不过解决了！修改NV项
请问具体修改哪个NV项？
如果是在切换点附近FAIL，可以修改切换点看是否有改善。另外温度补偿也会影响内环指标。
修改的NV项能不能 发个图片来借鉴试试
俺也遇到了找个问题E段过不去 F可以
测试的时候10700的灵敏度只能到-93左右
但是10562 10838 都上了-111
用台三星的机器测试一样，能分析下是仪器还是干扰的问题么
仪器刚刚升级的软件
觉得和校准NV数据关系比较大，有好的机器没？有的话读出NV试着对比下！
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。
