• 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
首页 > 手机设计 > 手机射频设计讨论 > 手机耦合测试,全功率发射下灵敏度下降20dBm

手机耦合测试,全功率发射下灵敏度下降20dBm

录入:edatop.com     点击:
CDMA手机中450M频段,工作频率在450M-470M之间,传导测试灵敏度-106,耦合测试也OK
在手机中插入DMO模块(未上电,频率为400M-470M)后,active模式下灵敏度为-102,但是全功率发射时FER=100%,需将综测仪功率调高至-80dBm左右。
只有将DMO模块的天线管脚断开,或者接地,或者去掉DMO模块时,现象才消失。
应该如何解决呢?

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。

上一篇:晶体中的ESR的大小会影响什么
下一篇:手机pa是工作在线性吗

手机天线设计培训教程详情>>

手机天线设计培训教程 国内最全面、系统、专业的手机天线设计培训课程,没有之一;是您学习手机天线设计的最佳选择...【More..

易迪拓培训课程列表详情>>

我们是来自于研发一线的资深工程师,专注并致力于射频、微波和天线设计工程师的培养。

  网站地图