WCDMA 上行内环功率控制问题

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MTK6268+6160平台的WCDMA手机，测试inner loop时有时会fail，多测几次就会pass，但是之前fail处的值比较大，接近临界值，这与什么有关，能调试吗？
上行内环功率控制是终端接收基站发出的功率控制命令控制本端的发射功率，基站的功率控制命令的产生是通过测量终端的发射信号的功率和信干比，与预置的目标功率或信干比相比，产生功率控制命令以弥补测量值与目标值的差距，即测量值低于预设值，功率控制命令就是上升；测量值高于预设值，功率控制命令就是下降。因为在以实时交谈业务为主的服务里，上行链路是影响系统容量的主要因素，上行内环功率控制将会直接影响系统的用户容量和通信质量，而且，上行内环功率控制主要是在终端内完成的，终端的一致性测试对上行内环功率控制有严格的测试内容，主要考察的是终端是否能够根据基站发来的功率控制命令(TPC)在短暂的反馈延时内做出正确的响应。上行内环功率具体的测试过程如图1所示，终端应该根据基站在不同时间段内发来的TPC命令，根据网络设定的功率控制步长和功率控制算法相应地调整自己的发射功率。

在qcn里面有个做补偿的NV，适当调整补偿值可以做微调，如果差的太多，还是要关注平坦度和hdet的电路

MTK有支持WCDMA的平台啦？
看来偶OUT啦

学习下！

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inner loop power control主要和两个因素有关：PA的温度补偿和频率补偿。
你说的这种情况有时fail，有时多测几次会pass，很可能就是工作一段时间之后PA温度升高而导致的情况。所以你要做的就是适当调整一下温度补偿的值。应该会有效果。

补充一点：如果电路没有功率检测回路，那么温度补偿尤为重要。最好花时间仔细调试。否则你测试inner loop时先测和后测结果会有很大不同。

跟温度补偿有什么关系？
看fail在哪里？
MTK冒视只能改gain state point
自求多福吧

谢谢分享,免费真好

具体那个测试case fail？

MTK平台可以修改温度补偿
就在校准用的ini文件里，或者用meta，里面有相关的item做修改

也想学习学习.....

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。