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关于TD性能测试的问题
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最近给TD终端做性能测试时,在多径衰落64K下的解调老出问题,怎么弄都弄不过...
工程师说解调性能测的是个相对值,所以跟补偿线损没有关系,但实际测试时明显有差异这是为什么呢?
看了3GPP上写的相关东西,也没搞明白这BLER到底是怎么计算出来的...
请教各位工程师
工程师说解调性能测的是个相对值,所以跟补偿线损没有关系,但实际测试时明显有差异这是为什么呢?
看了3GPP上写的相关东西,也没搞明白这BLER到底是怎么计算出来的...
请教各位工程师
64K测试时使用的的是信噪比,线的补偿原则上市没有作用的:有用信号降低(或增加),噪声也降低(或增加),理论上维持信噪比不变,这个一般是DSP算法决定的。可能:1. 线的补偿在不同频率上有明显差别 2. 信号源有补偿差损但是干扰源没有(间接提高了信噪比)
谢谢
申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。
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