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Aeroflex将LTE测量功能添加至PXI 3000平台
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日前，LTE方面测试设备的全球领先供应商Aeroflex宣布，该公司已将最新LTE测试功能添加到了其灵活的模块化PXI3000平台中。此次最新添加的功能可使生产测试工程师缩短射频元件及LTE用户设备实现量产的时间。该新型解决方案本身充分利用了Aeroflex在LTE研发测试方面的成功记录，以及PXI3000系列平台在手机制造中业经验证的良品率和吞吐量优势。
针对PXI3000的Aeroflex新型测量套件选件可使生产测试系统工程师使用低成本的模块化PXI设备标定LTE终端、芯片组及射频元件的特性。LTE终端设备将在相同设备中集成LTE与传统通信标准。因此在一个测试平台中支持多个蜂窝标准是提高生产效率以及缩短测试时间的关键。
AeroflexIQCreator软件的最新升级版本及时补充了LTE波形生成功能，该软件支持PXI3000系列以及Aeroflex3410系列台式数字射频信号生成器，从而使它们成为LTE射频元件测试的理想之选。
AeroflexPXI产品经理TimCarey指出：“对PXI3000系列的最新LTE测试支持功能进一步增强了Aeroflex的LTE测试解决方案，并且为其他测试平台的功能扩展提供了有力保证，例如3410及7100，这使我们能够最大程度缩短从研发到低成本制造测试的时间，并且降低了在实现最短量产时间方面的风险。”
Aeroflex的PXI3000及7100平台有许多技术共同点，因此简化了从研发测试到生产测试的转变过程。两个平台使用相同的软件算法，能够实现相似的测试性能，因此研发工程师使用的研发设备将与制造工程师使用的生产设备取得相近似的测量结果。这可有效消除指标差异和故障排除所需要花费的时间，而在众多不同类型仪表运作的时候，这部分无效时间是很难从根本上避免的。
LTE网络即将在全球的部署以及对4G服务消费需求的强大预测意味着必须在大规模量产时通过灵活高效的测试解决方案来大幅度提高生产效率。通过减少测试时间和成本，实现未来产能扩展，同时力求生产测试设备保持与研发系统相当的性能和准确度水平，PXI3000平台可轻松实现这一目标。
