• 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
首页 > 手机设计 > 手机射频设计讨论 > 调试中遇到的问题,附谱仪截图

调试中遇到的问题,附谱仪截图

录入:edatop.com     点击:
1

大家转到射频板块给我指点一下,谢谢!

移频直放站的两个本振互相干扰的现象非常正常。主要的干扰一个是空间耦合后叠加,一种是通过电源回路影响频谱纯度。LZ这种现象应该是电源回路影响的,本振强信号通过电源回路串扰到另一个本振上,虽然结过旁路电容滤波后强度有所衰减,不会有太大影响,但还是有一部份可能会叠加到另一个本振之上。简单的可以给两个本振各自供电,测试时可以用两个电源(仪器)分别供电,如果真是这样的,可以试试在电源回路上并接高频谐振特性旁路电容,我也没试过,只是猜测而已。对了,还要看这两个本振有没有共用的电路比如晶振什么的,最好不要共用。
好久没有做直放站,有错误请指正。呵呵。

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。

上一篇:有人听说过Silconlab的4209芯片么?
下一篇:手机RF设计入门(转载)

手机天线设计培训教程详情>>

手机天线设计培训教程 国内最全面、系统、专业的手机天线设计培训课程,没有之一;是您学习手机天线设计的最佳选择...【More..

易迪拓培训课程列表详情>>

我们是来自于研发一线的资深工程师,专注并致力于射频、微波和天线设计工程师的培养。

  网站地图