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现在手机生产中有这么几个问题,请大家帮忙看一下
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1,打电话时call不上,
2,BER比较大,
3,频率偏移超出指标,
请求高手帮忙看一看倒底是什么原因造成了这些问题,谢谢.
2,BER比较大,
3,频率偏移超出指标,
请求高手帮忙看一看倒底是什么原因造成了这些问题,谢谢.
1:Improve your calibratoin/board test program, orginate call after MS reboot and register
2:Utilize different ARFCN for nearby test station, for EXP: EGSM61 for station 1, EGSM63 for station 2.
3:Add some waiting time before PFER measurement after call orignate/handover, or do some other time consuming measurement first, for EXP: BER.
这种手机有校准过吗?
关注一下时钟电路有没有受到干扰?
我觉得应该是你的测试的环境造成,主要是屏蔽性不好/还有信号之间的相互干扰的问题/环境温度的问题......以前我们在生产中也有过这个问题.后来买来了屏蔽盒/把环境温度降下来就OK了!!
申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。
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