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PVT底噪传导pass，辐射fail的原因

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测试PVT
传导测试时, 均通过, 且底噪部分的余量挺大的

而耦合测试时,小功率的底噪不过, 且刚好达到临界状态.

请问, 通常这都是什么原因造成的啊?可不可以说是天线的问题呀?

谢谢啦!

这是天线，以及从switch到天线之间电路辐射的影响。你需要查看一下，这些电路屏蔽是否好

你的意思是这部分电路辐射出的噪声能量送到了CMU,从而造成其底噪不过?如果这个噪声有这么大, 那可不可以认为我主板的辐射接收灵敏度一定会很差啊?毕竟它们都是源自主板的噪声啊, 而且全部通过天线引入的, 前者是引到CMU,后者是引到LNA.可是偶的辐射接收灵敏度还行啊, 大概-98dBm左右.不知辐射接收灵敏度中的主板噪声与 PVT辐射测试出的底噪是不是一个东东啊请高人指点,谢谢!

Yelleow toot:
"而耦合测试时,小功率的底噪不过, 且刚好达到临界状态"这是很正常的，因为你设置了CMU 的Loss很大（有20多db吧）

是啊。是啊。
辐射的方法测试PVT本来就不科学。
因为测量仪表动态范围的限制，这样很大的辐射损耗将会带来很大的仪表补偿值。
你可以试试看用8960来测试一下。
有一个选项里面可以设置，增加仪表的动态范围。
是不是PS这个变态要求辐射PVT的？

ps是谁？：）

请问是哪个值呀? 能不能说清楚点? 我笨笨啊.
是不是那个设置接头损耗(RF conector setup)的那个补偿值啊? 就是补偿角锥(TEM cell)空间损耗的, 我们设为 24 dB/ GSM, 27dB/DCS.

是的，传导下小功率时实际输入到仪器端口的在5dbm左右，而在耦合下经过天线和空间的损耗到达仪器检测端口时被衰减了很大（30db）从而引起仪器检测时有所区别。仪表的动态范围就很关键了
还有测试pvt时，不同的功率对应不同的mask，你补偿值不一样，仪器汇报的功率也就不一样，也就会用不同的mask来”罩”。

“可是偶的辐射接收灵敏度还行啊, 大概-98dBm左右.“如果天线没有问题的，-98也太低了吧，至少要有-105的

偶们水平差啊，传导灵敏度大概-102/GSM，-108/DCS
但由于主板噪声的存在，辐射灵敏度只能做到-98/GSM，-102/DCS
注：天线的插损为0，即TCH power与RX level基本相同。

非常感谢！
可不可以这样理解：耦合测试时，实际到CMU输入端口的信号幅度很小，CMU必须对其进行放大，放大值与补偿值相等，如27dB/DCS, 24dB/GSM。
此时，CMU本身的噪声也被放大啦，这个噪声电平完全淹没了手机原来的PVT底噪，从而使得PVT底噪提高。
换句话说，不是偶的手机不行，是CMU不行。
但偶没理解你说的动态范围，是不是我说的这种概念啊？
另请问，CMU选择不同的MASK是根据什么呀？
偶觉得应该是仪器上PCL level的设定值吧，而不应该是补偿值或是仪器汇报值啊。

谢谢，偶回去换8960试试，但可能找不到这个动态范围的选项在哪里设啊
还请明示啊。

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。

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