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大功率desense问题

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手机测试接收灵敏度的时候,将功率打到最大功率发射会比最小功率发射灵敏度差2db,查看PCB,发现收发已经打了足够的地孔,此种情况是否能通过匹配改善?



可参考这帖子

可以试试 ,应该改善不大

tks

收发隔离度的问题啊

TX泄露干扰到RX了!

是传导的TX Desense? 增强接地自然是有用的。也是增加TX/RX的隔离度。
如过传导没问题,辐射测试有问题,那么问题就比较多了。试试天线附近各功能模块的接地和屏蔽等。

传导的DESENSE,我们用的CAKIT,直接扣线的

传导desense就几个要点,芯片的下面的layout是否做好去除寄生(尽量挖地)
器件的收发隔离指标是否够
笼子的高度是否过低导致反射
晶振和TRC的LO是否被TX干扰到

确实有些芯片的下面的layout
若没有净空则寄生效应
会影响Rx的VCO这会使灵敏度变差
不过原则上若是这因素
Tx不管打 0dBm还是24 dBm
其灵敏度都是会变烂
充其量只有很烂跟非常烂的差别
(因为Tx打24 dBm时还会有Tx Leakage的issue影响)

有没有用APT或者ET?可以把APT功能关闭看看还有没有desense?大功率下DCDC noise也可能干扰到RX。

最小功率的时候,灵敏度是够的。最大功率的时候灵敏度差了2个db

我们用的MURATA的duplexer,重新焊接双工也是不行的;TRANSCIEVER L2没有净空;晶振是做了净空的,另查看晶振附近的走线,发现没有高速信号线什么的;最后测试发现,B1,B7都有desense问题,都是2-3db。想请问一下,应该如何判断是否为晶振收到干扰和芯片几声的原因,应该怎样做实验。小弟不胜感激!

之前看了criterion资深工程师的文章,也分别在PA OUT ,差分等地方做了试验,发现desense问题并没有转好;改动PA OUT 的匹配,ACLR有8db的余量,都在40以上(wcdma),LTE的 aclr也是有差不多的余量;用网分看pa输出的load_pull和vender 推荐的位置差不多。之后改动差分的匹配,怎么改动变化都不是很大,最后将COMMON model TRAP按照参考电路放上去,desense仍然是存在。资深工程师还有没有什么方法帮忙找出是哪里引起的DESENSE?


首先要确认是否是双工器/layout的问题,可以将PA输出匹配断掉,焊猪尾巴引出tx,使tx不经过双工,再测是否有desense,就可以确定是否是双工的问题了。

我怎么没有想到 如果确定了不是双工的问题之后还要怎么查 期待资深工程师的解答

诶,TX只有一个输出PORT啊,之后咋弄啊

楼主,Muruta的saw 双工在B1至少是高于京瓷的,至于Fbar的,我就不说了。
所以器件自身的隔离度应该不是问题本身,必须检查你的layout 双工距离PA,TRC的距离
TX走线距离TRX走线和RX走线及过孔。
你的图示黄色走线是TX到双工吗?

1. 检查你收发器的Layout是否该净空的有净空?
因为你说Tx小功率时灵敏度可以比大功率好个2 dB
但这样的灵敏度是否够好?这是重点
如果小功率的灵敏度是比较好但不够好那就可能是这因素
毕竟若是TX VCO的寄生效应你还可以透过EVM跟Phase error来推断
RX就只能看灵敏度了

2. 把屏蔽罩拿掉再测试看看
3. PA直接外灌电源试试

另外由你的Layout看来Rx走线跟ANT Port走线以及Tx走线
都离算蛮远所以应该不是走线的干扰
不过不确定你那黑点是否为Via
如果是坦白讲你Duplexer的GND Via打得有点少
这可能会影响隔离度
Duplexer的隔离度除了跟组件本身相关跟PCB Layout关系更大
不过这还是先等你验证完Duplexer是否为凶手再来讨论

你在调下loadpull的位置看下 ,

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。

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