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LTE band3 TX影响RX灵敏度
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最近公司做的一块板子，在Band3下TX大功率发射时对RX造成了相当大的干扰，特别是在20M带宽下，RX灵敏度TX满功率相比TX小功率时降低了3-4dB。
请问有经验的朋友，可能是什么原因造成的呢？（TX的ACLR和EVM相当好）
做过的试验：
1.单独给PA外接供电，没有改善。
2.断开PA输出，TX大功率发射时，依然有相同干扰，可见不是双工器造成的。
另外布板时，已经尽量分开了PA和RX通路，两者分别在bottom和top面，并且中间层留了足够的地层分开。
请问有经验的朋友，可能是什么原因造成的呢？（TX的ACLR和EVM相当好）
做过的试验：
1.单独给PA外接供电，没有改善。
2.断开PA输出，TX大功率发射时，依然有相同干扰，可见不是双工器造成的。
另外布板时，已经尽量分开了PA和RX通路，两者分别在bottom和top面，并且中间层留了足够的地层分开。
坐等资深工程师解惑，学习
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找一下具体影响那些信道
另外，你用的是哪个平台
lte的tx干扰就是比较大的吧
如果TX和RX隔离的还成，那么双工器的 TRX和TX隔离怎么样？
FDD的吗？收发隔离度不够
按照之前测试结果应该是双工器隔离度的问题，但是后面的验证又证明不是双工器的问题。走线也没问题。
有没有按照测试标准，B2，B3在测20MHz灵敏度是，UL RB设置为50
同意这个，lz应该是没有把UL设对。
能把你layout 的截图传上来不？Ｂ３ Ｄｕｐｌｅｘｅｒ的 估计你的那个 ＲＸ 和 ＴＲＸ走线没有隔离好
都断开TX了。和双工那边的影响应该不大吧？你断开PA后看看双工的TX那边还有没有信号。
1.你断开PA的输出连接仪器的方法是用仪器的两个端口连接的吗？PA_out直接接仪的输入，测试座接仪器的输出？
2.既然你排除了DUP的影响，建议试一下测试座接仪器的输入测试TX ，双工器的RX_port串联电容或电感的位置断开，然后焊同轴线连接仪器的输出测试RX性能。这样可以判断是否天线开关造成的影响
这个回答看起来靠谱
这个是对的
改下时序试一下，拉开Tx与Rx的时序
俺新手 坐着听，看结果
共模抑制有没有？有的话贴上去试试看，还有就是双工器可能对收敛的器件比较敏感，特别是小电感，会影响接收，这是我们项目里出现的问题
这也能改？你们实验过啊？怎么搞得？
坐着听都听不懂
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。
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