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综测仪测试手机接收灵敏度

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手机连接综测仪测试接收灵敏度时,比如LTE在测试座灵敏度能测到-97dbm,直接用cable线焊到收发芯片口能测到-一百多dbm,新手有点费解,接收过程不是从测试座经开关、滤波等器件再到收发芯片吗,为什么在测试座测到的还比芯片口差一些,求高手答疑解惑

相对应的在芯片口的功率也应该要高一些了吧。

相对应的芯片口的功率也应该高一些了吧,这样灵敏度就有改善。

插入损耗

开关、滤波等器件又不会为功率提供增益,加上INSERT LOSS,差2,3个db也很正常。

有点明白了,谢谢

请你在读一次LZ提的问题好吗,笑了!

楼主测的是传导?

是传导

芯片口的接收灵敏度肯定要比测试座的灵敏度高一点(DB值会高些,这个原来说错了),因为RF接收从测试座再到IC port,会有一点pcb阻抗不匹配导致的损耗,绝对阻抗匹配是做不出来的。所以只可能尽量设计好pcb及器件选型来减少这块的损耗,论坛有高手解读过这块的设计,你可以查看下别人的帖子。

LZ的意思是射频口的灵敏度为什么比transceiver差,你仔细看问题了吗? 这都回答的什么玩意儿,

楼上的,你这么会回答,你怎么不回答,道理不一样吗!你妹的,就你知道RF端子的灵敏度DB值比芯片出来的要高,还是低?!愤青一个

看你楼上笑2个人就知道了,50步笑百步,你做不了百步,你也只是50步而已。大家都是50步。

中间经过的那些无源器件都是有损耗的

挺有帮助的帖子

能问个问题吗?
请问CMW500是如何进行手机接收灵敏度测试的?具体的测试原理是怎样的?
我也是新人,感谢解答

dddddddddddd

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。

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