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2D 天线性能受干扰
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各位:
有没有遇到这样的问题，WCDMA B5 在天线暗室里面测试出来的TIS是正常的。
如果把手机放到屏蔽箱里面测试2D天线性能，固定在相同位置，发现不同次的性能相差很远，接收达到了-10dbm.
有没有遇到这样的问题，WCDMA B5 在天线暗室里面测试出来的TIS是正常的。
如果把手机放到屏蔽箱里面测试2D天线性能，固定在相同位置，发现不同次的性能相差很远，接收达到了-10dbm.
有干扰。
这个干扰要从哪里下手，主板传导正常。该有的屏蔽框也是屏蔽好了的
发现不同次的性能相差很远，接收达到了-10dbm.
-----------不同次是什么意思？是同一手机多次测试吗？在暗室测试一致性如何？
是的 ，同一个手机连续测试多次。在暗室测试多次是稳定的TIS。
那就不用纠结了····暗室测试的一致性是OK 的就行了··那才是一个标准··屏蔽箱的一致性本来的灵敏度就没有保障
既然暗室测试正常，传导又是好的额，只能是外界干扰了。在屏蔽房里面的屏蔽箱里面测试试试。
你的手机有严重问题：从天线辐射的能量反射后被易感部位耦合，影响接收。
你将手机放在金属板上，有可能在B5 根本接不起电话或无法使用数据业务。
那现在需要找的是反射部分还是？ 因为出现的频点是随机的。
频点随机？
同一个位置，多次测试如果有差异，建议：
1.要定位是不是亮灭屏导致的测得RSCP值差异，如果是，说明干扰来自LCD或者TP，DDR等。
2.如果都是亮屏测得，你要定位是不是在通话界面或者在主界面的差异，一般主界面和通话界面的差异在DDR上，可以首先怀疑，分析，定位。
3.如果都是在灭屏下测得的，这根本就很难解释，可以怀疑是否由于TP的黑屏手势造成的影响，
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。
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