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电容器的老化特性 (6)：电容器制造商如何针对MLCC（积层贴片陶瓷片式电容器）的老化进行补偿？
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问：电容器的老化特性 (6)：电容器制造商如何针对MLCC（积层贴片陶瓷片式电容器）的老化进行补偿？
答：
电容器的测试基准已在IEC-384-9被定义。它被定义为:在 最终热处理后1000小时的经时性变化后的电容值*。我们在测试工序中考虑到老化速度的影响，使1000小时后的电容值在允许的公差范围内来进行选别。
图1 :Class II材料的排序限制示例，K允许偏差
随着时间的推移,由于老化使电容值降低。最后加热后不到1000小时的有可能超过容量公差的上限，超过1000小时的有可能低于容量公差的下限。
在刚刚经历锡焊、粘接剂的硬化、其他温度上升过程后，电容器抗老化，静电容量不在公差内。有时也需要考虑电容器的老化，扩大带电测试的静电容量的允许设定范围。
*IEC-384-9 （1988）, Appendix A
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