开关电源32个测试项（三）

23.高温高湿储存测试

一、目的:

测试高温高湿储存环境对S.M.P.S.的结构,元件及整机电气的影响,以考量S.M.P.S.结构设计及零件选用的合理性.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /温控室;

(5). HI-POT TESTER /高压测试仪

三.测试条件:

储存高温高湿条件:通常为温度70±2℃,湿度90-95%试验时间24Hrs(非操作条件).

四、测试方法:

(1).试验前记录待测品输入功率,输出电压及HI-POT状况;

(2).将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规格设定其温度和湿度,然后启动温控室;

(3).试验24Hrs,试验结束后在空气中放置至少4Hrs,再确认待测品外观,结构及电气性能是否有异常.

五、注意事项:

(1).产品试验期间与试验后,产品性能不能出现降级与退化现象.

(2).试验后产品的介电强度与绝缘电阻测试需符合规格书要求.

24.低温操作测试

一、目的:

测试低温环境对S.M.P.S.操作过程中的结构,元件及整机电气的影响,用以考量S.M.P.S.结构设计及零件选用的合理性.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /温控室;

(5). HI-POT TESTER /高压测试仪;

三.测试条件:

(1).依SPEC.要求:输入条件(RATED VOLTAGE),输出负载(FULL LOAD)和操作温度(OPERATION TEMP.),通常温度为:(0℃).

(2).试验时间: 4Hrs.

四、测试方法:

(1).将待测品置于温控室内,依规格设定好输入输出测试条件,然后开机.

(2).依规格设定好温控室的温度,然后启动温控室.

(3).定时记录待测品输入功率和输出电压,以及待测品是否有异常;

(4).做完测试后将待测品从温控室中移出,在常温环境下恢复至少4小时,然后确认其外观和电气性能有无异常.

五、注意事项:

(1).产品试验期间与试验后,产品性能不能出现降级与退化现象.

(2).试验后产品的介电强度与绝缘电阻测试需符合规格书要求.

25.低温储存测试

一、目的:

测试低温储存环境对S.M.P.S.的结构,元件及整机电气的影响,用以考量S.M.P.S.结构设计及零件选用的合理性.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /温控室;

(5). HI-POT TESTER /高压测试仪;

三.测试条件:

储存低温条件:通常为温度-30℃,试验时间24Hrs(非操作条件).

四、测试方法:

(1).试验前记录待测品输入功率,输出电压及HI-POT状况.

(2).将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规格设定其温度,然后启动温控室.

(3).试验24Hrs,试验结束后在空气中放置至少4Hrs,再将待测品做HI-POT测试,记录测试结果,之后确认待测品的外观,结构及

电气性能是否有异常.

五、注意事项:

(1).产品试验期间与试验后,产品性能不能出现降级与退化现象.

(2).试验后产品的介电强度与绝缘电阻测试需符合规格书要求.

26.低温启动测试

一、目的:

测试低温储存环境对S.M.P.S.的整机电气的影响,用以考量S.M.P.S.电气及零件选用的合理性.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /温控室;

三.测试条件:

储存低温条件:通常为操作温度0℃条件下降低到-10 ±2℃,储存时间至少4Hrs.

四、测试方法:

(1).试验前记录待测品输入功率,输出电压及HI-POT状况.

(2).将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规格设定其温度,然后启动温控室.

(3).试验温度储存至少4Hrs,然后分别在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和输出最大负载条件下开关机各20次,确认待测品电气性能是否正常.

五、注意事项:

(1).在产品性能测试期间或测试之后,产品性能不能出现降级与退化现象.

(2).设定的环境温度为操作低温的温度再降-10度.

27.温度循环测试

一、目的:

测试针对S.M.P.S.所有组成零件的加速性测试,用来显露出在实际操作中所可能出现的问题.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /温控室;

(5). HI-POT TESTER /高压测试仪;

三.测试条件:

操作温度条件:通常为低温度-40 ℃ 、25℃、33℃和高温度66 ℃(湿度: 50-90%),试验至少24个循环.

四、测试方法:

(1).试验前记录待测品输入功率,输出电压及HI-POT状况.

(2).将确认后的待测品置入恒温恒湿机内,以无包装,非操作状态下.

(3).设定温度顺序为66±2 ℃保持1小时, 33±2 ℃和湿度90±2%保持1小时, -40±2 ℃保持1小时, 25±2 ℃和湿度50±2%保持30分钟,为一个循环.

(4).启动恒温恒湿机,然后记录其温度与时间的图形,监视系统所记录的过程,

(5).试验完成后,温度回到室温再将待测物从恒温恒湿机中移出,放置样品在空气中4Hr再确认外观,结构及电气性能是否有异常.

五、注意事项:

(1).经过冷热冲击试验后产品的性能与外观不能出现降级与退化现象.

(2).经过冷热冲击试验后产品的介电强度与绝缘电阻应符合规格书要求.

28.冷热冲击测试

一、目的:

测试高,低温度冲击对S.M.P.S.的影响,用来揭露各组成元件的弱点.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /温控室;

(5). HI-POT TESTER /高压测试仪;

三.测试条件:

(1).依SPEC.要求:储存最高(70℃),低温度(-30℃),测试共10个循环,高低温转换时间为<2min;

(2).依客户所提供的试验条件.

四、测试方法:

(1).在温控室内待测品由常温25 ℃向低温通常为-30 ℃转变,并低温烘烤1Hr.

(2).温控室由低温-30 ℃向高温通常为70 ℃转变,转变时间为2min.,并高温烘烤1Hr.

(3).在高温70 ℃和低温-30 ℃之间循环10个周期后,温度回到常温将S.M.P.S.取出(至少恢复4小时).

(4).确认待测品的标签、外壳、耐压和电气性能有无与测试前的差异.

五、注意事项:

(1).经过冷热冲击试验后产品的性能与外观不能出现降级与退化现象.

(2).经过冷热冲击试验后产品的介电强度与绝缘电阻应符合规格书要求.

(3).产品为非操作条件.

28.冷热冲击测试

一、目的:

测试S.M.P.S.在规格耐压和时间条件下,是否产生电弧ARCING,其CUT OFF CURRENT是否满足SPEC.要求,及是否会对S.M.P.S.造成损伤.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高压测试仪;

三.测试条件:

依SPEC.要求:耐压值(4242Vdc / 3000Vac)、操作时间(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA)值;

四、测试方法:

(1).依SPEC.设定好耐压WITHSTANDING VOLTAGE,操作时间TIME, CUT OFF CURRENT值.

(2).将待测品与耐压测试仪依要求连接,进行耐压测试,观察是否有产生电弧ARCING,及漏电流CUT OFF CURRENT是否过大.

(3).耐压测试后,确认待测品输入功率与输出电压是否正常.

五、注意事项:

(1).测试前应先设定好耐压测试仪的测试条件,待测品的输入与输出分别应与测试仪接触良好.

(2).耐压的规格值设定参考安规要求.

30.跌落测试

一、目的:

了解S.M.P.S.由一定高度,不同面进行跌落DROP,其结构,电气等特性的变化状况.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高压测试仪;

三.测试条件:

依SPEC.要求:规定的跌落高度、跌落次数和刚硬的水平面.

四、测试方法:

(1).所有待测品需先经过电气上的测试及目视检查，以保证测试前没任何可见的损坏存在.

(2).确定六个面(小-大)顺序依次进行跌落.

(3).使待测品由规定的高度及项(2)所确定的测试点各进行一次跌落,每跌落一次均须对其电气及绝缘等进行确认,记录正常或异常结果.

31.绝缘阻抗测试

一、目的:

测量待测物带电部件与输出电路之间和带电部件与胶壳之间的绝缘阻抗值.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高压测试仪;

三.测试条件:

(1).依SPEC.要求:施加500V直流电压后进行测试的绝缘阻抗值要高10MOhm(常规定义).

四、测试方法:

(1).确认好电气性能后,在绝缘阻抗测试仪中设定好施加的电压(500Vdc)和测试的时间(1 Minute).

(2).将待测物输入端和输出端分别短路连接,然后分别连接测试仪对应端进行测试.

(3).再将待测物输入端和外壳之间分别与测试仪对应端连接进行测试.

(4).确认待测物的测试绝缘阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、注意事项:

(1).阻抗要求值依安规标准要求定义.

32.额定电压输出电流测试

一、目的:

测试S.M.P.S.在AC LINE及OUTPUT VOLT.一定时,其输出电流值.

二.使用仪器设备:

(1). AC SOURCE /交流电源;

(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;

三.测试条件:

四、测试方法:

(1).固定输入电压与频率,依条件设定CV模式下的输出电压.

(2).开机后待输出稳定时记录输出电流值.

(3).切换输入电压与频率,记录不同输入电压时的输出电流值.

(4).在输出电压值不同条件下分别记录输出电流值.

五、注意事项:

记录输出电流值前待测品电流值需稳定.