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PCBA大讲堂:电路板表面绝缘电阻(SIR)与爬锡能力

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前面文章谈到如何量测电路板的表面绝缘电阻(SIR),在经过实际测试后,发现如果锡膏的SIR值表现越好,则其锡膏的爬锡能力就会越差,另外也较有机会造成空、假焊(de-wetting)的等缺点。

下面有两张照片,一片为SIR比较高的板子,很明显的可看出有露铜的现象;另外一片板子的SIR虽然比较差,但吃锡效果就很好,可是明显地可以见到有助焊剂残留的现象。

因所实验的SIR测试版为裸铜板,没有任何表面处理,所以爬锡效果会比较差,但这正好可以拿来判断锡膏助焊剂的清洁能力,清洁能力好的锡膏爬锡效果会比较好,不过相对的SIR也比较差。

如果想使用高 SIR的锡膏又想得到好的吃锡效果,可以参考下面的方法:

 使用氮气回流焊

 使用镀全锡板

 清洁电路板的表面

(↓经过168小时的高温高湿环境实验后,此锡膏的最低SIR还可达到500,000,000 ohms,取LOG10为108.70,但是可以看到焊锡的边上还有未吃锡的露铜,表示其吃锡状况比较差)  

经过168小时的高温高湿环境实验后,此锡膏的最低SIR还可达到500,000,000 ohms,取LOG10为108.70,但是可以看到焊锡的边上还有未吃锡的露铜,表示其吃锡状况比较差

(↓经过168小时的高温高湿环境实验后,此锡膏的SIR最低还可达到150,000,000 ohms,取LOG10为108.176,此锡膏的SIR虽然比较低,但是吃锡状况明显好很多,只是助焊剂明显残留)  

经过168小时的高温高湿环境实验后,此锡膏的SIR最低还可达到150,000,000 ohms,取LOG10为108.176,此锡膏的SIR虽然比较低,但是吃锡状况明显好很多,只是助焊剂明显残留

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