• 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
首页 > 电子设计 > PCB设计 > PCB设计 > ICT 测试选点规则

ICT 测试选点规则

录入:edatop.com    点击:

  每个NET于焊锡面有至少一个已开防焊之测试点。
  两个已开防焊点的中心距至少为50MIL,若能达到70MIL以上则可方便测试和可降低治具成本。
  测试点不可被零件覆盖,测试点(中心)距零件(IC)外框125MIL 以上。
  测试点中心距易歪斜零件之最大摇摆范围125MIL以上。
  测试点中心距PCB板边125MIL以上。
  测试点边缘和定位孔外缘距离至少125MIL以上。
  TESTPAD直径45-50MIL,VIA HOLE外径45-50MIL,内径不超过15MIL。
  测试点平均分配在PCB上。
  TESTPAD有定义为零件,如TP,AT等,VIA HOLE(有开防焊者)有定义APERTURE号码,且以上定义LAY不同机板时均固定不变。
  例:1.定义TP为TESTPAD之零件代码。
  2.定义APERTURE:10为已开防焊之VIA孔。
  以上原则仅供参考。

射频工程师养成培训教程套装,助您快速成为一名优秀射频工程师...

天线设计工程师培训课程套装,资深专家授课,让天线设计不再难...

上一篇:针对高速PCB设计问题定义一体化的设计流程1
下一篇:FJY全光亮无氰电刷镀金(电镀金)技术

射频和天线工程师培训课程详情>>

  网站地图