阻燃型铝基覆铜箔层压板规范& lt;下& gt;

　　4.4.1.3.1抽样方案
　　B组检验应在A组检验合格的批中随机抽取，每批产品中随机抽取的样本不少于一张。
　　4.4.1.3.2拒收批
　　如果B组检验不符合表7允许的缺陷数，则该检验批不合格，供方应采取适当纠正措施后，重新提交检验批进行复验，复验批采用加严检验，复验仍不合格，则该批为不合格而被拒收。
　　4.4.1.3.3样本的处理
　　经B组检验合格的样本，可按合同或订货单交货。
　　4.4.2C组检验
　　C组检验为周期检验，C组检验按表9的规定。
　　4.4.2.1抽样方案
　　C组检验样本应从已通过B组检验的批中抽取，样本大小应符合表10规定。
　　4.4.2.2不合格
　　如果按抽样方案抽取的样本单位未通过C组检验，则判定该批产品不合格。
　　4.4.2.3不合格时的处理
　　按照GJB2142中4.6.2.1.4条规定。
　　5交货准备
　　交货准备按照GJB2142中第5章的规定。
　　附录
　　介电常数和介质损耗因数测量方法－变Q值串联谐振法（补充件）
　　A1方法要点
　　本方法利用将试样与调谐电容串联接入高频电路，测量串联回路的品质因数Q值的原理，测量大电容，小电阻，小电感板状试样的介　电常数和介质损
　　表10C组检验抽样方案
　　每个抽样同期内生产的覆箔板的总数/张                样本大小  不合格判定数
　　不大于100101～10001001～1000不小于
　　耗因数，测量电路如图A1所示。
　　A2设备、仪器及材料
　　A2.1涡流测厚仪（TC－103或等效仪器），量程为0～200μm准确度为±1μm。
　　A2.2Q表的Q值
　　测量范围为10～600，电容测量范围为0～400pF，准确度为±0.2pF。
　　A2.3电极装置
　　电极装置应清洁，其本身的介质损耗应尽可能小。采二电极系统，电极尺寸及其它要求按GB1409的规定。
　　A2.40.02mm的退火铝箔。
　　A2.5医用凡士林或硅脂。
　　A2.6高频振荡电源，频率0.1MHz～100MHz。
　　A3试样
　　A3.1剪切加工4块55mm×55mm的方形试样。
　　A3.2按GJB1651中方法3031蚀刻去掉铜箔。
　　A4程序
　　A4.1用极少量医用凡士林或硅脂等低介质损耗的材料，将铝箔贴在试样上，贴好的铝箔上应看不见气孔与皱折。
　　A4.2按产品标准规定对试样进行预处理后贴上50mm的电极，上、下电极同心对齐。
　　A4.3按电路图连接好串联夹具及测微电极。
　　A4.4调准频率，选择适当的辅助电感接入电路。
　　A4.5将被测试样放进测微电极并拧紧。
　　A4.6拧紧串联夹具上的短路环，使被测试样短路，调节调谐电容使测试回路谐振，记下C1和Q1。
　　A4.7松开短路环，使被测试样接入测试回路，再次调节调谐电容使测试回路谐振，记下Q2和C2。
　　A4.8测量每块试样的绝缘层厚度，并记录每块试样三点厚度的平均值。
　　A5计算
　　介质损耗因数和介电常数计算公式如下：
　　式中：（A1）（A2）
　　ε－介电常数；
　　tgδ－介质损耗因数；
　　A－电极面积cm2；
　　d－绝缘层厚度cm；
　　ΔCi－|C1－C2|；
　　ε0=0.08854×10－12F/cm。
　　A6结果
　　A6.1以4个试样介电常数的平均值为测试结果。
　　A6.2以4个试样介质损耗因数平均值为测试结果。
　　A7报告
　　a三个试样测量的单个值和平均值；
　　b试样的预处理条件；
　　d测定时的环境条件；
　　e测定中任何异常现象或与规定程序的差异。
　　附录
　　（补充件）
　　热阻测试方法
　　B1方法原理
　　温差是热量传递的推动力。在稳定工作条件下，导热量P=T1－T2/R,式中P为导热量（W），T1、T2为物体两侧的表面温度（℃），R为热阻（℃/W）。
　　热阻测量示意图见图B1。
　　B2仪器设备材料
　　B2.1大功率三极管一只，功率为5W，其封装形式为TO－220。
　　B2.2大功率三极管供电电源一台（由直流稳压器和有关电路组成），使三极管处于直流稳态。
　　B2.3散热器一个，由铜板制成，并将其置于恒温水槽中。
　　B2.4测温仪2台，要求温度传感器能置于图B1中所示的两个测温点，对该两点温度的影响可以忽略。
　　B3试样
　　B3.1两块尺寸为30mm×40mm×板厚的试样。
　　B4程序
　　B4.1试样在温度为15℃～35℃，相对湿度45％～75％，气压86kPa～106kPa的条件下处理不少于16h。
　　B4.2如图1所示，将测温仪的传感器置于测温点1和测温点2，试样和三极管的接触部分及散热器和试样接触部分涂上导热硅脂，并把三者固定在一起，使得三极管与试样，试样与散热器之间没有空隙。
　　B4.3将三极管和供电电源连接。
　　B4.4打开供电电源开关，每隔5min记录一次测温点1和测温点2的温度，当温度稳定时（约需30min），从温度显示器上读出T1和T2。并测量三极管集电极和发射极间的电压VCE和集电极电流Ic。
　　B5计算试样的热阻（B1）
　　式中：P=VCE·IC；
　　R—热阻
　　UCE—三板管集电极和发射极间的电压；
　　IC—三板管集电极电流；
　　以每组两个试样热阻的算术平均值为测试结果。
　　附加说明
　　本规范由信息产业部提出。
　　本规范由中国电子技术标准化研究所归口。
　　本规范由国营第七O四厂负责起草。
　　本规范计划项目代号：B85002。