为什么压敏电阻被损坏？

录入：edatop.com 点击：

最近遇到了一个棘手的问题，找不到原因，就是在一个次插拔试验后与连接器相连的几个压敏电阻和TVS全部损坏，应该是击穿了吧，电阻只有几百欧姆，搞不懂是什么原因造成的...

关注中，看那位高人指点一下。

外部DC-DC电源的拔插吗？

不是，是结构插拔测试....

有没有遇到过的啊？

难道是电路的寄生电感太大，导致电压Ldi/dt大,然后使EMI器件长时间工作在大电压下，使得损坏？

那位大侠指导一下啊？

首先是否可以稳定复现？如果是的话，可能两个原因：
插拔时候的浪涌比较大（两端设备不供地），另外就是你的压敏电阻和TVS防护能力（重点是通流能力太弱了）；
解决办法：使用长短针，保证每次插拔地先接触，然后是信号线，最后是电源。或者采用其它插拔方式（开关控制或者不支持热插拔）

不能稳定复现
但是插拔时是不接电脑的，USB线没有给手机供电，只是手机装着电池而已，应该没有浪涌的问题
不过你的长短针思路很好，谢谢

看网上的说法，一般有两种原因：过压【击穿】和过流【烧穿】，但具体机制还有待搞

把环境说说清楚，供大家分析嘛！
是那个结构件插拔试验啊之类的信息。状态是怎么样的！
我是做TVS的，如果是TVS是短路失效的话，只有过流失效模式，过压击穿是他的工作原理，如果长时间过压或者过电流问题，选个功率大点的就可以解决。压敏不是很了解，基本也是这样，过压易使其失效。
一起探讨

那个插拔的情况大概是这样：环境：常温，将手机【带电池，不开机】固定，然后用一个类似机械手的东西拿着数据先去插USB插座的那个孔，反反复复3万次的样子，频率大概是1HZ。
测试完成后开机，连接到电脑上，检测USB不能识别。
我看到一种说法是TVS还要考虑一个脉冲累积功率的东西，如果那个大了也会坏。

EMC培训课程推荐详情>>

EMC 电磁兼容设计专业培训视频套装，3门视频教程，让你系统学习电磁兼容知识和应用【More..】

易迪拓培训课程列表详情>>

我们是来自于研发一线的资深工程师，专注并致力于射频、微波和天线设计工程师的培养