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EMI问题，

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在设计时，经常会碰到以下问题，请高手指点一二
1、在LDO处也会扫描到干扰，且强度和DCDC差不多，都是经典的布局和走线，前后的电压峰峰值也在50mV以下，怎会有如此高的辐射；
2、板边缘USB口不使用时没有数据通过，但依然可以扫描到很大的辐射；
3、依旧是闲置接口问题，SD卡座没有任何数据及clock信号，但依然存在辐射；
4、在整个PCB平面都扫描到一个约158MHz的尖峰，且各处强度都一致，请教如何查找其源头；
另请教大家如何较少屏排线处的辐射。

啊，你是用什么设备扫描EMI干扰的啊？
你所说的USB口和SD卡座问题，就算没有信号应该也会有干扰，因为他们是EMI的一个重要传导途径啊，是手机对外辐射和接受干扰的重要窗口
其它的，不知道
帮顶

回答:
1. LDO的电感,由于充放电,自身的辐射很强，而且经常会放置在板边，很容易辐射到外壳和其他电源线或输出输入信号线上。当然，首先不排除，输入电源和输出电源有没有受到外界的干扰。
2。USB不使用，并不等于不工作，工作模式为STop
3。由于都是数据地址总线，尽管SD不工作，但数据地址线依旧在工作。SD卡座需要一个很好的接地，有些人喜欢分静电地和数字地，把外壳连接到静电地。但这恰恰会增加外壳到地的分布电感，在高频时，一些耦合到外壳的噪声无法导入到主地上。这样外壳就成了天线，变成辐射源。
4。用EMCSCAN可以清楚扫描到整个板辐射的强度

3楼的强
进一步请教，关于问题2和3：SD卡的数据线和地址线，应该和数据总线与地址总线不是一起的，所以不会是在SD不工作时还有信号，这点可以去实际测量。还有USB，在不使用时也是没有信号的。
我还是认为，那是因为SD卡座和USB口是很好的EMI导体，所以会有一些高频信号通过它们辐射出去。

关注中

我对SD和USB的数据走线都有测量，在平常状态走线上都没有电平变化。并且两者都有比较多的接地脚（SD卡座、USB一般都有四个）。
LDO就是负反馈电压控制，没有电感，不存在什么PWM信号，而且在电源上的纹波都在50mV以内。

1.关于你的问题2,3
A.如果你测辐射时是按标准的测法,就是在每个端口都接上线,则就算你的USB等不工作,如果你的地或者你的布线有问题(偶合到别的干扰)的话,则可以测到该端口出来的干扰;
B.如果你是用近场探头测试(即不接线在端口)到辐射,则原因只有一个,你的地没有处理好.原因有可能如下:
--USB的金属片没有与整个机箱接触好,导致杂讯由USB的端口的金属直接辐射出来;
--板子上的地没有处理好,杂讯由板子的其它地方传过来(如果没有金属壳机箱)
--或者有高速线布在板边,导致板边辐射
2.关于你的问题4
首先分析该频率是否是你的IC主频或其倍频,
如果是,则仔细再看该布线是否不合理(按照布线的最优化来布)
如果不是,则是电源干扰,对电源进行滤波处理.

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