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近场probe会比远场Probe贵很多，为什么？
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问一个 入门级问题
EMC测试中 选择的天线探针， 比如 Electric field probe, or Magnetic field probe 是否有近场，远场之分？如果有区别的话，它们各自的工作距离是多少？还有它们的应用案例有什么不同？它们的工作原理有什么不同？（比如，近场probe会比远场Probe贵很多，为什么？）
EMC测试中 选择的天线探针， 比如 Electric field probe, or Magnetic field probe 是否有近场，远场之分？如果有区别的话，它们各自的工作距离是多少？还有它们的应用案例有什么不同？它们的工作原理有什么不同？（比如，近场probe会比远场Probe贵很多，为什么？）
自己抛砖引玉一下。浅谈我的理解
probe 为一个dipole 天线，因为天线有近远场之分，因此probe分为近远场两种
远场probe可以不考虑probe与被测试器件的coupling，此时probe考虑为一个接受天线
近场probe需要考虑probe与被测器件 的coupling, 因此需要考虑 coupling factor 来得到正确的测量结果
近场probe 比如说 samito 测试系统中测量近场HAC, SAR, EMC... 这类系统比较精密 因为与被测系统的coupling 需要小心处理 而远场probe则无需考虑这种效应
希望各位指教。
这种说法不对的，呵呵呵，我前些年刚好做了一个天线近远场测试系统的项目，近场探头比远场探头贵些，不是在于耦合的问题，而在于近场变换到远场换算时，要求采集的数据信息很丰富，而且精度高。测试时需要用矢量网络分析仪，通过程控软件进行数据采集。
回头我整理一些资料上传供大家交流
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