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GSM手机可靠性、安全性和电磁兼容性设计技术

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【资料名称】: GSM手机可靠性、安全性和电磁兼容性设计技术
【作者】: 曾召华西安交通大学(西安,710049) 刘贵忠中国科健股份有限公司(深圳,518067
【语言】:中文
【页数/格式】: PDF
【作品日期】: unknow
【内容摘要】: 漂移设计是可靠性的一个重要内容。由于环境
和机内湿度的变化,元器件在工作过程中随外界各
种因素的变化而引起其参数变化,元器件参数的漂
移将会导致设备性能的下降甚至失败。设计中考虑
了元器件参数公差漂移特性,对性能影响大的地
方,其元器件都有特别要求,特别是射频部分中的
振荡器周边电路给予特别处理,选用漂移小、稳定
性高的器件。在电路布局中,使这部分远离RF功
率输出端和热源

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