UHF RFID天线阻抗测量

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最近设计了RFID天线，在实验室做了端口阻抗测量，发现跟仿真的阻抗值偏差较大。用ADS和HFSS都仿过，阻抗差别比较小，才加工的，并且加工中PCB的控制也是可以的。

测量中，S11或阻抗，随着天线的位置出现变化，有时变化较大。如果在chamber里测量，还会不会出现这种情况？毕竟实验室反射面太多了。

有没有大侠有类似的经验啊！谢谢！

网友回复:

不知道楼主所说的天线位置变化是怎么样的变化？
如果只是普通的测试时变化一下天线朝向，s11不应该有太大的变化，在房间里和暗室里测不会差别很大。
如果是天线安装位置发生变化，比如工装的形状变化时有可能对阻抗是有影响的。
所以说楼主好好判断一下！

网友回复:

还是昨天说的那样，如果测试状态都正确，在房间（当然测试环境不能太恶略）里测的和暗室相差不会很大。
还有我怀疑是不是测试电缆的问题，楼主可以在测完几种状态后看一下测试状态和校准后的状态是否一致！

网友回复:

求交流啊！大侠，如何设计啊！

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业帮助，请学习业界专家讲授的天线设计视频培训教程。

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