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应用内外迭代的FGMRES-FFT技术快速分析腔体微带贴片天线和阵列天线的散射特性

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应用内外迭代的FGMRES-FFT技术快速分析腔体微带贴片天线和阵列天线的散射特性

内容简介：本文将有限元边界积分(FE-BI)方法被应用于分析腔体微带天线及天线阵的散射特性.FE-BI方程使用brick体元进行离散,FGMRES迭代方法结合快速傅立叶变换技术(FFT)被用于求解FE-BI方程.分析结果表明,FGMRES迭代方法结合FFT技术可以快速准确地分析腔体贴片微带天线和天线阵的散射特性.

作者：李尚生, 丁大志, 庄伟, 陈如山,

关键词：微带贴片天线, 系数矩阵, 收剑曲线, 矩阵矢量,

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