- 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
窗函数在相控阵天线平面近场测量中的应用
录入:edatop.com 点击:
窗函数在相控阵天线平面近场测量中的应用
内容简介:有限扫描面截断是影响天线平面近场测量精度的主要误差源之一,尤其是对于波束扫描的相控阵天线的平面近场测量更是如此.为了减小相控阵天线平面近场测量中的有限扫描面截断误差,介绍了余弦窗函数并将其应用到相控阵天线平面近场测量中.计算机模拟结果表明,通过对近场进行加余弦窗的数据处理能够有效地减小有限扫描面截断误差.提出了对近场数据进行加余弦窗处理的适用条件.
作者:于丁, 傅德民, 刘其中, 毛乃宏,
关键词:余弦窗函数, 相控阵天线, 平面近场测量, 有限扫描面, 截断误差,
上一篇:无载波单脉冲天线阵近场波束扫描的时域模拟
下一篇:微带天线的宽带设计综述