- 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
雷达天线近场测试系统中取样架的稳定性分析
录入:edatop.com 点击:
雷达天线近场测试系统中取样架的稳定性分析
内容简介:取样架稳定工作是雷达天线测试系统的关键.因此,对取样架的结构稳定性进行了校验,对其控制系统稳定性进行了分析,并给出控制参数的取值域.在系统稳定性要求的控制参数范围内,系统可安全可靠地运行.
作者:尚军平, 毛乃宏, 李勇,
关键词:取样架, 有限元, 闭环控制, 稳定域,
上一篇:阵列天线互耦对DOA估计的影响
下一篇:角馈方形微带贴片阵列天线交叉极化的研究