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清除微带相控阵天线扫描盲点研究进展
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清除微带相控阵天线扫描盲点研究进展
内容简介：对微带相控阵天线中扫描盲点出现的物理机制进行了深入的分析,并讨论了其对微带相控阵扫描特性的影响.结合扫描盲点产生的必要条件,回顾总结了清除扫描盲点技术的发展概况,所涉及技术主要包括天线子阵技术、EBG技术、缺陷地技术和特异材料技术.
作者：唐明春, 肖绍球, 王秉中, 刘元柱,
关键词：微带相控阵天线, 扫描盲点, 表面波,
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