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相控阵天线扫描盲点抑制技术研究进展

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相控阵天线扫描盲点抑制技术研究进展

内容简介：文章分析了具有接地介质板结构和波导结构的相控阵扫描盲点产生的物理机制,阐述了盲点产生满足的条件.对如何预测扫描盲点位置进行了详述.现有的扫描盲点抑制技术有:(1)子阵技术、(2)背腔技术、(3)DGS技术(Defected Grounded Structure)、(4) EBG技术(Electromagnetic Band-Gap)、(5)电磁超材料技术.文章总结分析了各自的优缺点.

作者：张朝, 刘波,

关键词：相控阵天线, 扫描盲点, 表面波, DGS, EBG, 电磁超材料,

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