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基于阵元互耦的相控阵天线结构变形影响分析
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基于阵元互耦的相控阵天线结构变形影响分析
内容简介：分析相控阵天线结构变形对电性能的影响，对高性能天线的研制具有重要的意义。基于阵面辐射单元互耦的分析，建立了相控阵天线结构—电磁耦合模型，给出了辐射单元位置误差对相控阵天线电性能的影响分析方法。仿真结结果与全波计算的一致，证明了该方法的有效性和正确性。
作者：王从思, 平丽浩, 王猛, 徐慧娟,
关键词：相控阵天线, 电性能, 结构变形, 电磁耦合模型,
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