测试电缆在天线调试中的影响

做了两年的RF，这几天忽然对导线在天线中的作用差生了很大的兴趣，做了一些实验，发现存在很大的问题，再次提出来，希望大家依照自己的经验发表看法。互相交流经验。
目前情况是：
采用36mm*23mm的单面PCB小板.采用长度为80mm的导线作为天线。采用的测试导线有170mm的半钢线，170mm进口软同轴导线。320mm进口软同轴导线。70mm的半钢线和进口同轴软导线。
校准过程：
采用标准校准件对仪器进行开路，短路，和load的校准。然后采用端口扩展（port extension）对导线进行校准。
测试结果：
70mm的半钢线和同轴软导线在矢网上面显示的驻波为17，18的样子。
170mm的半钢线和软同轴导线测试结果一样，驻波在1.5左右。
340mm软同轴导线测试结果为驻波在2.5左右。
按照理论来讲，导线在天线测试中的影响可以忽略。但目前反映出结果看来，导线对测试的结果产生的很大的影响。去处连接头的影响（N型头转SMA的一个影响，导线自带SMA头的影响）。外界干扰很小。我见到过在导线上面全部加上磁环消除外界干扰的做法，但是导线拉得很长，不知道是否可行？
在这里牵连到很多东西，比如校准的准确过程？不同连接头对最终测试结果影响有多大？
详细出处：http://www./bbs/post.asp?action=new&boardid=26

端口延伸仅校正每个测试端口的电延迟（相移）。它无法消除由损耗以及电缆、适配器或测试夹具的错误匹配所引起的误差。

这个问题是值得我们大家考虑的事情。
它对天线的调试有很大的影响。
对于LZ提到的测试结果，不懂是在哪个频段下测得的。因为频率因素对线缆影响会比较大。而且对于电缆的长度也是要根据频率来选择的。
我们从传输线理论中可以知道，线缆的长度L负载端的阻抗ZL发生一定的变化，也就是阻抗变换的作用，这个作用主要是对虚部，影响相位。这个就会使得ZI不等于ZL。而在电缆的长读为1/2波长的整数倍时，ZI=ZL，根据这个原理，我们在测试的时候尽量使测试电缆长度为测试频率的1/2波长的整数倍，不过也不是越长越好。太长了会增加线缆的损耗和一些其它的干扰。
上面是个人见解，有不同意见，欢迎拍砖！

上面的说法不是很精确，因为同轴电缆都是标准的50欧阻抗。

大家都有同樣的問題呀
不知道哪位高手幫忙解一下

校准有两种校准方式,一种就是上面LZ所说的负载校准,另一种是端口校准.调试手机天线(包括PCB天线),一般是端口校准.;就是说你加了不同长度的不同电缆,就用另一根相同长度的相同电缆校准到0,这样才能测出PCB天线的实际驻波比.

是校准到1,

对于测试电缆拉长的测试，我想你可以做个实验。
其实就平常见到的吸盘天线一样，它的馈线一般都很长，少则3，5m，多则10几m。测试驻波的时候你会发现，基本都在2以内。这样做的测试准确吗？显然是不行的。对于其中的原因，还希望有大虾来解答。
对于LZ说到的同轴电缆都是50ohm的，这个不假，那只是表示电缆的特性阻抗为50ohm，也就是Z0，对于长度的增加，ZL还是有影响的。至于这个原因，我想看了传输线理论或许会更明白一些。

对于测试电缆拉长的测试，我想你可以做个实验。
其实就平常见到的吸盘天线一样，它的馈线一般都很长，少则3，5m，多则10几m。测试驻波的时候你会发现，基本都在2以内。这样做的测试准确吗？显然是不行的。对于其中的原因，还希望有大虾来解答。
----〉这样是不行的，因为馈线本身是有损耗的，在网分中看到的RL，是有两部分合成引起的，一部分是待测件的阻抗，另外一部分就是馈线以及待测件的电损耗（因为这部分能量虽然不是被出射了，但是被热损耗掉了， 总之就是没有反射回去）。一般情况下，馈线较短或待测检能量损耗较小时，这部分是可以忽略的，但是馈线有3，5m时损耗就很大了。
对于LZ说到的同轴电缆都是50ohm的，这个不假，那只是表示电缆的特性阻抗为50ohm，也就是Z0，对于长度的增加，ZL还是有影响的。至于这个原因，我想看了传输线理论或许会更明白一些。

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需系统了解手机天线设计，可以学习业界专家讲授的手机天线设计培训教程。