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手机天线耦合测试正常,但场测不稳定的有那些原因

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请教各位大侠,
本人在做的一款超薄手机,在屏蔽箱内测试耦合功率,相位等都正常,跟别的手机对比差距不大,但一进入场测,就会出现通话时断时续,信号不好的现象,请问这个原因是什么。谢谢指教!

你看下 你的天线做在什么位置的。同时你的TRP与TIS能做到多少?这些需要注意下。

做做人头手得测试,可能是场测得时候人得头部和手对天线影响过大

2楼,3楼的说法都说的很有道理,LZ可以按照二位的建议去测试一下,补充一点:场测的时候也要考虑一下周围的环境。
试一下,给大家反馈一下结果吧

场测是对手机通话功能的综合实测,涉及到很多方面,软硬件、天线、测试环境、网络状态、手持状态等等。场测效果不好,应该多方面查找原因,不应只怪天线。

实验室数据只能参考

谢谢各位大侠,目前测试发现头手影响很大,对比NOKIA,他的手机头部影响只有3db,我们的有10db,目前打算从天线结构上解决

天线结构?
不太明白是什么意思?

既然天线的性能都很好,干吗要动天线?

对,这些方面都有影响。
也有可能是带宽不够,手持状态时有较大频偏,刚好谐振点偏移了。

耦合测试属于近场测试,有可能天线耦合测试性能达标了,但场测时,天线性能会有所偏差,变差了。

还有一点,就是屏蔽箱的测试结果有问题,那只是找最大值的,对于综合数据有一定偏差,建议用暗室测试,查看数据,再与场测效果比较。当手机方向性较差时,最大值即使可以达到比较大的数值,对于均值也未必会好。
实际应用与测试数据会有所偏差,测试时,一般是手与头的影响考虑得较少。对于场测,那是看实际应用上的效果,手与头都易对天线产生频偏,

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。如需系统了解手机天线设计,可以学习业界专家讲授的手机天线设计培训教程

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