temcell与trp/tis测试偏差

遇到一个问题
两台CDMA手机(同一型号),用temcell测试时PCS 的FER结果差别很大.(temcell的loss:-39dBm)
但是用暗室测试时,两台手机的TIS水准接近.详细数据如下:
Temcell data(PCS Loss:-39)
手机 ch600 ch25 ch1175
1# -102 -103 -103
2# -108 -108 -109
TRP/TIS data(2D)
手机 ch600 ch25 ch1175 sum
1# 102 102 100.7 101.8
2# 103 102.4 101.7 102.5
不知道为什么,欢迎大家讨论

测PCS？1900MHz？不是CDMA嘛？
TEM cell是测不了手机高频的。这种椎箱就不是为2G这个频率设计的，用在1G那里还算行。问题不仅仅在于偏差，而在于象楼主说的，同样两台机子在cell里测和在暗室里测偏差根本不同步，不成比例。所以毫无参考价值。
如果有微波高手专为2G频率设计一个TEM cell，这种cell才是高频能用的，测量结果和暗室才有可比性。

看楼主测试信道是CDMA1900
一般情况不会出现楼主这样得情况，所以楼主看看是不是测试有问题。1＃600信道有问题，TIS有无天线都一样了。

忘了一点，你在2D测试是测试一个面吧，就是H面
这样得话有可能会有这样得情况，如果是3D得TIS就不可能了。2Dde测试不叫TIS 叫rx tx
所以会出现一个最大很大，超过传导。尤其是高频

问一句，为什么说1＃600信道有问题，TIS有无天线都一样了
谢谢！

titan_jiang,我只测试了一个角度，因为比较快。
和楼上一样的问题，为什么1# 600信道有问题呢？

同意 asjade 兄的说法。
不过即使都是在800M左右，也是不太准确的。 temcell测试的灵敏度受到的影响比较大，远远比不上暗室，因为暗室测试的结果是一个平均值，更稳定一些。
temcell测试的只能是一个面，而且受到的影响比较大，不够稳定。在temcell能提高1dB的FER，可能用暗室测什么变化也看不出来。

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需系统了解手机天线设计，可以学习业界专家讲授的手机天线设计培训教程。