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平板裂缝天线子阵形变后的方向图分析
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平板裂缝天线子阵形变后的方向图分析
内容简介：子阵方向图对平板裂缝天线的工作性能有着重要的影响.本文给出了常用的子阵设计方法,并针对可能出现的形变,提出了从单元位移和幅相的变化来分析子阵形变后的方向图的方法,分析结果表明:位移主要对主瓣宽度的影响较大,而幅相的变化主要对副瓣的影响较大.文中讨论、分析了子阵在不同形变情况下的方向图主瓣宽度、副瓣电平等性能,并给出了相应的理论结果和仿真结果.
作者：余伟, 顾卫军, 郭先松,
关键词：平板裂缝天线, 子阵形变, 子阵方向图,
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