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上行天线组阵载波相位并行标校方法研究
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上行天线组阵载波相位并行标校方法研究
内容简介：提出了利用伪随机序列并行确定上行组阵各天线载波相位差的标校方法.该方法具有精度高、并行处理、所需时间短、标校通道一致等显著技术优势.利用现有的扩频测控多功能数字基带系统搭建实验平台,通过演示实验验证了该标校方法的正确性以及工程可实现性.实验结果与理论分析十分吻合.
作者：何国龙, 李国民,
关键词：上行组阵, 载波相位, 伪随机序列, 并行标校, 合成损耗,
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