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宽角扫描天线激励下介质体电磁特性的快速分析
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宽角扫描天线激励下介质体电磁特性的快速分析
内容简介：本文提出了一种在宽角扫描天线激励下快速计算介质体电磁特性的方法。在介质区域内部建立以电通密度为未知量的体积分方程后，推导了体积分方程矩量法(VIE-MoM)矩阵方程中电通密度展开系数与宽角相控阵天线波束扫描角的函数关系表达式。当激励波束以不同角度扫描时，利用该表达式直接求未知系数，避免了重复的大型矩阵的填充以及求解过程。计算实例表明，采用本文方法来获得待求解未知数所需的时间远远小于直接求解VIE-MoM矩阵方程，大大地提高了计算效率。
作者：王文博, 徐金平,
关键词：体积分方程, 宽角扫描天线, 相控阵天线, 介质体, 激励波束,
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