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平板裂缝天线阻抗匹配设计探讨

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平板裂缝天线阻抗匹配设计探讨

内容简介:本文对平板裂缝天线辐射裂缝匹配方程进行了深入的分析,发现中间馈电情况下辐射裂缝导纳和等于2的结论与确定耦合裂缝阻抗的边界条件有关,通过改变确定耦合裂缝阻抗与裂缝结构参数关系的边界条件,推导出了辐射裂缝导纳和等于1的结果.

作者:金林, 何国瑜,

关键词:平板裂缝天线, 耦合裂缝, 辐射裂缝, 匹配设计方程,

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