超低副瓣天线近场测试关键技术探讨

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超低副瓣天线近场测试关键技术探讨

内容简介：文中就超低副瓣天线近场测试所涉及的若干关键技术和直接影响测试计算精度的各类误差源进行了探讨.特别对有关的误差分析补偿方法作了全面的阐述,提出了具有理论研究和工程实用价值的见解.通过在西安电子科技科技大学研制的近场测试系统上的计算机仿真和实验研究,结果表明,只要进一步提高测试系统的硬软件精度,并进行严格的误差分析补偿和诊断调整,实现超低副瓣天线的近场测试则是完全有可能的.

作者：张士选, 李勇, 张福顺, 傅德民, 毛乃宏,

关键词：超低副瓣天线, 近场测量, 误差源, 误差分析补偿, 测试系统,

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