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使用ADS如何快速进行标准化测量？

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使用ADS如何快速进行标准化测量？
例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制
如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？
有那些思路、方法与例子呢？

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业帮助，请学习易迪拓培训专家讲授的ADS视频培训课程。

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