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有通过测量s参数反推介电常数的程序与方法吗?
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有通过测量s参数反推介电常数的程序与方法吗?
像混叠的介电材料 能通过测量分离出来吗?例如4层板 可以测量top-gnd与bottom-vcc与top-bottom这样的方式推导出中间层的介质材料的介电常数与插损角之类的数据?
还有像一些导体材料的特性与损耗的一些因素是否可以通过一定的公式近似计算出来呢
像混叠的介电材料 能通过测量分离出来吗?例如4层板 可以测量top-gnd与bottom-vcc与top-bottom这样的方式推导出中间层的介质材料的介电常数与插损角之类的数据?
还有像一些导体材料的特性与损耗的一些因素是否可以通过一定的公式近似计算出来呢
有! 本版里找找...网友发了好几次了。
在哪块?主题是? 另外就是设计时候的方法与测量
有了S11就可以看你怎么算
mengzhuhao:
在哪块?主题是? 另外就是设计时候的方法与测量
** 这应该是经典...自己体会。有了s参数可以反推瞬态阻抗
但是针对不同结构的介电常数应该按照哪个比较准确的公式推导?具体不知道你用的什么方法测试的,有谐振腔。传输反射等等一系列方法。你说的用瞬态阻抗具体不是很清楚。不同的结构算法基本是一致的,稍微有点不同
这个问题挺有意思
申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。如需专业帮助,请学习易迪拓培训专家讲授的ADS视频培训课程。
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