大容量带状光缆施工中的几个技术问题

随着全球电信网络向着数字化、宽带化、智能化方向发展，以大容量带状光缆为主要传输媒体的光纤用户接入网正加速建设。而大容量带状光缆与单芯中继光缆在施工技术方面存在一定差异。

1大容量带状光缆纵破（简称天窗）技术的应用   

以往，光缆大多作为中继光缆，需要分支接头的可能性很小。

带状光纤用户接入网的特点是用户交换点多，交换点距离近，从而导致光缆分支接头点多。

为了保持光缆中不需分支光纤的完整性，在光缆配盘时，往往采用整盘配置，在需分支接头位置，余留定量光缆，运用大容量带状光缆纵破（天窗）技术进行接续。带状光缆纵破技术是指在光缆配盘时，在采用整盘配置的前题下，将大容量带状光缆从需分支接头的位置按所需尺寸，首先将光缆外皮及护套纵向破开，去除光缆外皮及护套；再用专用纵破刀或手术剪将中心束管纵向被开，去掉中心束管，将所需要分支的纤带剪断，并与分支光缆的纤带相连，保留不需分支纤带并进行收容。本技术的应用，可降低光缆中继段内接续损耗，减少光纤发生故障的概率，减轻施工人员的劳动强度，节约机械使用及接续材料费用。

本技术在北京市中关村电话局用户光缆网（西南环）试验环中首次采用并获得成功，1998年在北京市100个光缆环施工中普遍推广使用，取得了显著的经济效益和社会效率。

2利用熔接机进行环接

大容量带状光缆接入网光缆环中，光缆分支接头较多，为便于光缆接续指标的双向测试，在光缆接续过程中，测试点均在局端（在交接点成端接续时，测试点在各被接交接点），在被接光缆的另一端用熔接机将相邻的纤带依次进行环接。

上述技术的应用必须严格按下列光缆接续施工程序进行。

（1）局端成瑞接续。

（2）主干直通头或主干分支头接经（由局端的一端开始依次进行）。

（3）主干纵破分支头接续。

（4）各交接点成瑞接经（主干各接经点指标测试全部合格后进行）。

3运用OTDR的刷新栩式，提高接续测试速度

带状光缆的光纤具有很大的关联性，即接续完一带后进行接续损耗测试，若按以往的测试方法（利用OTDR平均出处理进行测试），若测完前11芯指标合格，但第12芯不合格，则必须将其熔接纤带剪断重新熔接，而导致大量时间耗费在测试上。

运用OTDR刷新模式的测试时间短，而OTDR进行平均化处理测试时间长的特点，在各接续测试过程中，首先采用OTDR的刷新模式测试（波长采用1550nm，可检测出接续损耗及纤带因弯曲半径过小等原因引起的附加损耗）。刷新模式测试正常后，将接续熔接点用热熔管加以保护并收容，再用OTDR进行平均化处理测试，测出两窗口（1550um，1310um）双方向的衰耗指标。

为进一步提高测试速度，由于接入网用户光缆环的距离比较短，在测试接头衰耗数据时，在ODF架上，采取每次串接6纤，每带分两次测试的方法，可在同一测试曲线上读出多个接头点的衰耗数据（可用自动或手动游标识位移联动功能，测出各接续点衰耗），这样可以减少测试次数。

4影响接续指标的因素

4.1 影响成端接续指标的因素

（1）光纤分配架上的原因：

a）带／单分隔卡槽将带状光纤分隔成单芯光纤时引起光纤微弯而产生附加衰耗；

b）相合连接器没有较好的重复性和互换性；

C）尾纤端头磨损或不清洁；

d）尾纤因绑扎过紧而使纤带挤压变形。

（2）测试软纤FC插头磨损或不清洁。

（3）纤带收容半径过小。

（4）光纤熔接点接续衰耗过大或FC插头没有固定紧。

4.2 影响光缆接续指标的因素

（1）光缆开剥过程中造成纤带损伤。

（2）光缆在接头盒内固定过程中固定过紧，造成纤带挤压变形。

（3）光纤的几何、光学参数：带状光缆每带为12芯或24芯，所以其几何、光学参数差异很大，从而造成接续衰耗大。但是如果在配盘时严格按光缆出厂盘号的顺序进行配盘，则可大大降低接经损耗。

（4）光纤熔接点接续衰耗大或纤带收容半径过小。