选择正确的频谱分析仪架构以减少发射机测试时间

选择正确的频谱分析仪架构以减少发射机测试时间

内容简介：1 引言测试高性能发射机时,由谐波、寄生干扰、互调产物和频率变换产物引起的低电平杂散发射是设计者遇到的最费时间的测量.为了获得可接受的信噪比(Signal Noise Ratio,SNR),测量仪器本身的热本底噪声应比这些杂散发射电平低10 dB.本底噪声由仪器设计、分辨率带宽选择、以及由检测信号使用的技术决定.带宽每减少10倍,本底噪声相应地减少10 dB.然而,降低本底噪声的代价是显著增加测量时间.选择刚好适合杂散电平要求的带宽是保持可接受的总测量时间的关键.

作者：罗德与施瓦茨中国有限公司,