SoC设计过程中需要考虑的关键测试要素

摘要：现代大批量SoC产品设计要求重点关注可测性设计(DFT)和可制造性设计(DFM)问题。本文试图通过具体的案例让中国工程师了解SoC测试的概念，其中包括了对SoC设备中的DFT和DFM性能描述以及它们的主要发展趋势。     本 文所用的SoC测试案例由硬盘控制器(HDC)、16位微控制器、微控制器使用的程序和数据SRAM以及用8M位DRAM实现的片上缓存组成，再加上时钟 综合PLL、带外部旁路晶体管的稳压器使用的片上控制电路组成一个完整的系统。该器件采用的是0.18μm的铜工艺，与前几代技术相比增加了性能、降低了 功耗。另外，DRAM也采用了深亚微米技术，因此在一个器件中可以包含进一个完整的系统缓存(1MB)以及自动刷新逻辑，而且使用的硅片面积还比以前小。

图1：扫描模式配置。
图2：MSIST配置。
图3：MBIST配置。
图4：DRAM测试配置。 申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习本站推出的矢网、频谱仪、示波器等测量仪器使用培训教程。 热词搜索：设计 过程中 需要 上一篇：探头 知识介绍 下一篇：频谱仪、网络分析仪等使用介绍资料大赠送！ 延伸阅读： ·安捷伦无线设计和测试白皮书(2014-03-02) ·安捷伦TRL校准件设计系列资料(2014-03-02) 微波射频测量操作培训课程详情>> 矢网、频谱仪、示波器、信号源等培训教程合集，购买合集更实惠，让您快速熟悉和精通各种仪器操作【More..】 微波射频测量操作培训课程合集 矢量网络分析仪使用操作培训课程套装 频谱分析仪学习培训课程套装 数字示波器使用培训课程套装 微波射频信号源培训课程套装 逻辑分析仪使用操作培训课程套装 微波射频测试测量栏目 测量操作培训 综合技术文章 测量操作问答 网络分析仪 频谱分析仪 数字示波器 射频信号源 逻辑分析仪 频道总排行 矢量网络分析仪的应用 现代网络频谱测量技术[pdf] 安捷伦TRL校准件设计系列资料 同轴电缆的特性阻抗的计算公式 矢量网络分析原理-校准. 常见物理量测量 如何选择同轴馈线 精确的线性和非线性测量是实现精确系统 广州附近哪里有微波暗室 安捷伦LTE测试解决方案   网站地图