电磁干扰预测试系统研究与设计

摘要：在电子产品研制的早期阶段，运用电磁干扰预测试技术可以明显降低研制成本，也可大大提高产品认证测试的一次性通过率。本文对电磁干扰预测试系统的相关实现技术进行了深入研究，并提出了一套系统实现方案；开发出的原型系统运行表明该方案是切实可行的。

关键词：电磁干扰预测试；电磁环境电平；极限线；信号路径

     在GB/T4365-1995《电磁兼容术语》中将电磁骚扰定义为：可能引起装置、设备（系统）性能降低或者对有生命（无生命）物质产生损害作用的各种电磁现象；其中又将影响设备、传输信道或系统性能构成下降时的电磁骚扰称为电磁干扰（Electromagnetic Interference, EMI），并指出EMI的来源主要有工业干扰、宇宙干扰、天电干扰和雷电冲击等[1]。但在实际的EMI测试中所关心的是在排除电磁环境电平影响的情况下，检查受试设备（Equipment Under Test, EUT）是否在规定的频段内产生过高的电磁能量（依据相关的国内外标准来判断），所以在下文中，主要将EMI分成两类：EUT的EMI和环境EMI。

     为了有效管理EUT的EMI性能，相关国际组织（如IEC、CISPR、ITU和CCIR等）和世界各国都制定了相关的军用／民用标准[2]。我国在1997年也制定了这方面的军用标准，如GJB151A，对EUT的传导发射和辐射发射的测试项目、测试设备、测试流程、控制准则和测试报告等内容都提出了具体的要求并在全国范围内推行，要求相关设备应该通过国家指定机构的认证测试才能出厂[3]。由于认证测试属于产品后期的成败型测试，通过则出厂，否则就不能出厂；从产品研制周期角度看，这样操作的缺陷是明显的：发现问题太迟从而导致解决问题所付出的代价太大。所以有必要研制EMI预测试系统，使得在产品研制的过程中能通过EMI预测试手段来发现问题以使设计人员有针对性的采取措施以较早地解决问题，降低纠错成本并提高认证测试的一次性通过率。