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微波暗室中两种RCS测量系统的比较

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微波暗室中两种RCS测量系统的比较

内容简介：目标散射截面的测量对雷达目标识别、微波成像等研究领域都至关重要;在分析目标RCS测量原理的基础上,对暗室中RCS测量的两种方法---连续波测试体制和扫频测试体制进行了比较,给出了具体测量步骤,并通过实际测试进行了结果比对,最后说明了两种方法的使用范围.

作者：刘密歌, 赵军仓, 张麟兮, 李南京,

关键词：雷达散射截面, RCS, 雷达截面积, 微波暗室, 测量精度

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