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RCS测量场背景电平对目标RCS测量的影响
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RCS测量场背景电平对目标RCS测量的影响
内容简介：目标ＲＣＳ测量时，背景电平会影响测量精度。尤其在测量隐身目标ＲＣＳ时，背景电平引入误差会加剧。微波暗室虽能人为地减少背景电平，把背景电平控制在一个较小的水平上。但在目标模型ＲＣＳ换算成全尺寸目标ＲＣＳ时，全尺寸目标的最小可测ＲＣＳ不因微波暗室的低背景电平，也即不因目标模型的低最小可测ＲＣＳ而呈现低的最小可测ＲＣＳ。尤其在大缩比测量时，更能凸现这种情况。微波暗室的ＲＣＳ测量普遍采用连续波调零法体制。但在测量强前向散射弱后向散射这类目标时，用这种方法测量的目标ＲＣＳ会发生严重失真，应当采用在硬件研制上有相当难度的脉冲选通测量法体制。
作者：朱志浩,
关键词：雷达散射截面, RCS, 背景电平, 雷达散射截面测量, 目标雷达散射截面测量
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